Kako umerimo AFM Nasveti

Mikroskop na atomsko silo ( AFM ) jenaprava, ki se uporablja za merjenje zelo drobne lastnosti na nano -nivoju. Njene osnovne sestavine so sestavljeni iz drobnih konzole , na katerih jeatomically ostro konico . V svoji stični načinu delovanja , jekonica skenirane po površini , in se premika navzgor in navzdol z lastnostmi na površini vzorcev . To omogočazemljevid površine vzorca se izdelani . Za pravilen izračun višine vzorčnih funkcij ,AFM mora biti calibrated.Things kar potrebujete
Mikroskop na atomsko silo jezik Mikroskop na atomsko silo nasvetov jezik Mikroskop na atomsko silo kalibracijski vzorec jezik pinceta običajno

Prikaži več navodil

1

Mount mikroskopa konico na držalo konice . Imetnik konica je običajno sestavljena iz vzmetne spojke je pritrjen na plastično platformi . S pomočjo pincete , dvignite novo konico iz svojega kazenskega prostora in jo previdno položite na plastično platformo. Pritisnite na vzmetni sponko , tako daposnetek rahlo dvigala . Uporaba pinceto nežno potisnite konico pod vzmetni sponki in ga spustite. Tip se mora držati trdno na mestu .
2

Položite konico mikroskopa na glavo . Običajnoimetnik tip bo imel več manjših svečk , ki ustrezajo nožice na mikroskopa glavi . Previdno priključite držalo konice v nožice na mikroskopa glavi .
3

Mountkalibracijski vzorec na odru skeniranja . Vzorci kalibracijske navadno sestavljena iz mrežo linij znane debeline , ponavadi okoli 20 nm .
4

Imagekalibracija vzorec . Uporaba skeniranja kontrol , bi konico v stik z umeritvene vzorca in merjenje ustrezno veliko sliko, tako da semreža vidi .
5

Umerjanje AFM in konico . Koje slika končana , preverite izmerjeno vrednost višine omrežja in primerjajte to z debelino , ki jih proizvajalec kalibracija vzorca naveden

Izračuna se razmerje dejanske debeline do merjeno debeline : .

razmerje Calibration = Dejanska debelina /Izmerjena debelina

za prihodnje meritve debeline , ki uporabljajo ta AFM konico , uporabite preurediti formule za določitev pravilne debeline : .

Dejanska debelina = razmerje Calibration x Izmerjena debelina